NEC

　NECは8日、米国立標準技術研究所（NIST）が実施した直近の顔認証技術のベンチマークテスト（性能評価試験）で世界1位を獲得したと発表した。1200万人分の静止画を用いた「1：N認証」において、認証エラー率0・12％という第1位の性能評価を獲得した。撮影後10年以上経過した画像を用いて評価を行う経年変化のテストを含む三つのテストでも1位となるなど、NISTがウェブサイトに掲載した主要8項目の全てでトップ3に入る高い評価を獲得した。 【写真】NECの顔認証を活用したゲートレス生体認証 　NECは2009年の初参加以来、NISTが主催する顔認証技術のベンチマークテストの中でも高い精度が求められる1：N認証のテストで世界1位の評価を複数回獲得した実績を持つ。中核となるアルゴリズム（計算手順）の性能向上を図りながら、顔認証の社会実装を推進し、これまでに世界50以上の国と地域で顔認証事業を展開してきた。 　今後、多人数を同時かつ高精度に認証するゲートレス生体認証など、さまざまなユースケース（活用例）に適応するソリューションの開発・提供を進めてていく。