「パワエレテクノセンター」竣工式の様子［クリックで拡大］出所：クオルテック（写真：EE Times Japan）パワー半導体特化の信頼性評価施設を新設、クオルテック【関連記事】パワエレテクノセンターの外観（左）と設備導入前の試験ルーム（右）［クリックで拡大］ 出所：クオルテック3D統合では正確な半導体検査が必須にAI半導体の複雑化でテスト手法に新たな課題半導体製造用ワイヤボンディング検査装置を発表SiCパワー半導体の劣化試験サービスを開始、OEGキーサイト新社長は開発部門生え抜きの寺澤氏 「日本の顧客支えたい」
